電子ビームのミクロパルスの繰り返しの変動の測定

永井 良治; 西森 信行; 沢村 勝; 菊澤 信宏; 杉本 昌義; 峰原 英介

Proc. of 22nd Linear Accelerator Meeting in Japan, p.192 - 193, 1997/00

原研では15MeVの超伝導リニアックを用いて、遠赤線領域での自由電子レーザーの発振実験を行っている。この実験には電子ビームの高い安定度が必要である。十分な安定度を持ったビームを加速するためには、電子銃から安定したタイミングで電子ビームを引き出すことが必要である。この電子銃は、グリッドパルサーによって、10.4125MH、4nsに切られた電子ビームが1msのマクロパルスの間、一定の間隔で出されるよう設計されている。そこで、電子銃から引き出された電子ビームのミクロパルスの繰り返し間隔がマクロパルス内でどの程度変動しているかを、加速器の基準高周波信号と電子ビームの信号との位相差を検出することによって測定したので、その結果について報告する。